دوره 4، شماره 9 - ( بهار 1387 )                   دوره 4سال 1387شماره 9 صفحات 106-87 | برگشت به فهرست نسخه ها

XML English Abstract Print


1- دانشکده هنر، دانشگاه شهید باهنر کرمان
2- دانشکده مهندسی نساجی، قطب علمی و پژوهشکده نساجی، دانشگاه صنعتی امیرکبیر
3- موسسه تحقیقاتی فیزیک کاربردی دانشگاه صنعتی چک - پراگ
چکیده:   (4012 مشاهده)
 استفاده از تصاویر سی‌تی‌اسکن اشعه X علاوه بر کاربردهای تشخیصی پزشکی، روز به روز کاربردهای جدیدتر و گسترده‌تری می‌یابد و در این میان استفاده از اشعه X میکروفوکوس که دارای کانون بسیار کوچکی در حد میکرومتر است، به‌عنوان منبع تولید اشعه X جایگاه ویژه ای دارد و این به علت ویژگی‌های خاص آن است که می‌تواند تصاویری با وضوح (رزلوشن) و تضاد (کنتراست) بالا از اجسام نرم دارای ضریب ترقیق پایین تولید کند. از آنجا که در فرش دستباف انواع مختلفی از ساختار‌های غیر اصیل ممکن است به‌کار رود که موجب افت کیفیت فرش می‌گردد و تشخیص اصالت این ساختار‌ها نیز به‌صورت بصری امکان‌پذیر نیست، در تحقیق حاضر به تشخیص ساختمان داخلی فرش دستباف به کمک تصاویر سی‌تی‌اسکن حاصل از میکروفوکوس پرداخته شده است. این تصاویر که با تبدیل رادون معکوس به دست آمده‌اند، به خوبی قادر هستند ساختار داخلی ریزباف‌ترین فرش دستباف را در حد کوچک‌ترین اجزاء آن نشان دهند و می‌توانند ابزار قدرتمندی جهت تشخیص اصالت، بررسی ساختار داخلی فرش، تأثیر عامل‌های مختلف بر آن و بسیاری کاربردهایی دیگری باشند که نیازمند بررسی دقیق ساختار داخلی فرش دستباف هستند. 
متن کامل [PDF 510 kb]   (910 دریافت)    
نوع مطالعه: علمی - پژوهشي | موضوع مقاله: بافت و مرمت
دریافت: 1396/12/6 | پذیرش: 1396/12/6 | انتشار: 1396/12/6

بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.